詳細(xì)資料：

美國MEGGER S1-554絕緣電阻測(cè)試儀

220V電源和電池供電

數(shù)字和模擬背光顯示

測(cè)試電壓從50V到5000V或10000V可變

自動(dòng)進(jìn)行I、R、PI、DAR、SV和DD測(cè)試

測(cè)試阻抗可達(dá)15 TΩ或35T（S1-1054）

輸出電流5mA

RS232和USB傳輸端口，輸出測(cè)試數(shù)據(jù)

測(cè)試數(shù)據(jù)能儲(chǔ)存在儀器中

美國MEGGER S1-554絕緣電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品功能描述

輸入電壓: 95-240 V 50Hz

S1-554 電池壽命: 在5 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作6小時(shí)

S1-1054 電池壽命: 在10 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作4小時(shí)

S1-554 測(cè)試電壓: 50 V 到1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到5 kV 以25V為步進(jìn)電壓

S1-1054 測(cè)試電壓: 50 V 到1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到10 kV 以25V為步進(jìn)電壓

*度(23°C):

±5% 在1 TΩ范圍內(nèi)

±20% 在10 TΩ范圍內(nèi)(S1-554)

在20 TΩ范圍內(nèi)(S1-1054)

輸出電流:5 mA

S1-554 充電時(shí)間: 在5mA / 5 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s / μF

S1-1054 充電時(shí)間: 在5mA / 10 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤3 s / μF

S1-554 放電時(shí)間: 放電從5000 V 到50 V時(shí)間為≤120ms/μF

S1-1054 放電時(shí)間: 放電從10000 V 到50 V≤250ms/μF

電容測(cè)量: 10 nF 到50 μF (取決于測(cè)試電壓)

電容測(cè)量*度(23°C): ±5% ±5 nF

電壓輸出*度(0°C 到30°C):

+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load

±25 V for test voltages less than 500 V

電流測(cè)試范圍: 0.01 nA 到5 mA

電流測(cè)試*度(23°C): ±5% ±0.2 nA

顯示: 3位數(shù)字/模擬顯示

抗干擾: 4mA rms @ 200 V

定時(shí)器范圍: zui高定時(shí)間99:59

內(nèi)存容量: 32kB

其他測(cè)試性能: IR、PI、DAR、SV 、DD.

傳輸接口: RS232 和USB

數(shù)據(jù)存儲(chǔ): 電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD

實(shí)時(shí)輸出: 能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗

尺寸: 305 x 194 x 360 mm

重量: 7.1 kg